異頻介質(zhì)損耗測試儀使用說明

DS8000R異頻介質(zhì)損耗測試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒炇覝y試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF₆ 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。

介質(zhì)損耗測試儀測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場對測試的干擾，從根本上解決了強電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。

同時適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測的場合。

該介質(zhì)損耗測試儀配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

異頻介質(zhì)損耗測試儀使用說明

5.1、主菜單

   打開電源開關(guān)，進(jìn)入主菜單

（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)

的測試選項進(jìn)行測量。

※ 注：   儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。

5.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“一般測試”選項，進(jìn)入下一級一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊   

“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注   意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

5.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點擊主界面“CVT測試”選項，進(jìn)入下一級CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

     注    意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

5.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示

測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自

動保存，可點擊“打印”按鈕打印本

次測試結(jié)果。            

5.5、正反同測   

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

5.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點擊主界面“LCR測試”選項，進(jìn)入下一級LCR測試菜單。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修     

改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

5.7、絕緣測試

    首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“絕緣測

試”選項，進(jìn)入下一級絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

5.8、數(shù)據(jù)查詢

   在主菜單點擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第000個數(shù)據(jù)即最新數(shù)據(jù)，第199個數(shù)據(jù)即最老數(shù)據(jù)。）再點擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

5.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時間設(shè)置界面。進(jìn)入時間菜單（如圖5—18）

后，點擊想要修改的時間數(shù)據(jù)項目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時” 、“分”、“秒” ，最后點擊保存修改時間設(shè)置，點擊取消退出設(shè)置并返回主界面。        

※ 注：

所有圖片并非實物的全部描敘，請以實際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。