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異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用說(shuō)明DS8000R異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。 介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。 同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。 該介質(zhì)損耗測(cè)試儀配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗。
異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用說(shuō)明
5.1、主菜單 打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，進(jìn)入主菜單 （如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng) 的測(cè)試選項(xiàng)進(jìn)行測(cè)量。 ※ 注： 儀器啟動(dòng)測(cè)試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。
5.2、一般測(cè)試
“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的測(cè)試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—4）；測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。 注 意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。
5.3、CVT測(cè)試
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下一級(jí)CVT測(cè)試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測(cè)試界面。 相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”單，進(jìn)入測(cè)試菜單（如圖5—7）。測(cè)試過(guò)程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測(cè)試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。開(kāi)始測(cè)試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—8）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。 注 意：每一種測(cè)試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。
5.4、CVT變比測(cè)試
測(cè)試結(jié)果（如圖5—11）。測(cè)試結(jié)果自 動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本 次測(cè)試結(jié)果。 5.5、正反同測(cè)
首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測(cè)菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測(cè)試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—13）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。 5.6、LCR測(cè)試 首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測(cè)試”選項(xiàng)，進(jìn)入下一級(jí)LCR測(cè)試菜單。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來(lái)修改。修 改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測(cè)試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測(cè)試界面。長(zhǎng)按“啟動(dòng)測(cè)試”開(kāi)始測(cè)量，測(cè)試完成后自動(dòng)顯示測(cè)試結(jié)果（如圖5—14）。測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測(cè)試結(jié)果。 5.7、絕緣測(cè)試
試”選項(xiàng)，進(jìn)入下一級(jí)絕緣測(cè)試菜單。然后可選擇測(cè)試方式為正接法或反接法，選擇合適的測(cè)試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測(cè)試。 5.8、數(shù)據(jù)查詢
在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測(cè)量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即最新數(shù)據(jù)，第199個(gè)數(shù)據(jù)即最老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁(yè)至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。 5.9、參數(shù)設(shè)置
打開(kāi)儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18） 后，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分”、“秒” ，最后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。 ※ 注： 所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請(qǐng)以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。 所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開(kāi)始設(shè)置。 |
